科研成果

专利名称: 大口径光学系统近场检测装置及其测量方法
专利类别: 发明
申请日期: 2018.05.08
专利号: ZL201810429564.5
第一发明人: 寇松峰
其它发明人: 叶宇;张志永;田源;顾伯忠;